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PROBE CARDDesign, Technology, Trust > PRODUCTs > PROBE CARD
PROBE CARD 의 정의
반도체 제작공정중 FAB단계를 거쳐 완성된 WAFER내 개별 CHIP의 전기적인 특성검사를 하기 위해
사용 되는 TEST INTERFACE SOLUTION
(동작을 검사하기 위하여 반도체 칩과 테스트 장비를 연결하는 장치).
| DETAIL |
WAFER에 집적된 특정 DEVICE의 Chip Pad 위치와 동일하게 Probe Card Needle을 구성하여 제작되며,
Chip Pad 와 TESTER 간에 상호 전기적인 신호전달을 가능하게 하는 INTERFACE Solution 제품으로,
MAIN TESTER에 장착되어 개별 CHIP의 동작유무를 선별하게 해주는 WAFER 검사장치
Needle SPIDER
Probe Card (TESTER Side)
Probe Card (WAFER Side)
PROBE CARD 사용용도
  • MEMORY TEST Probe Card : Memory / Flash Memory Test
  • Non MEMORY TEST Probe Card : DDI / ASIC / MICOM Device TEST
| TESTER Platform |
ADVANTEST T3324 / T5331 / T5335 / T5365 / T5381 / T5385 / T6371(ND1) / T6372(ND2) / T6373(ND3) / T6391(ND4)
T6535 / T7313 / T5375 / T5377 / T2000
TERADYNE IP750 / J750 / Micro FLEX / Integra FLEX / Ultra FLEX / Tiger / Catalyst / A575 / A585
J995 / J996 / J997 / ETS364
CREDENCE DUO-Quartet / OCTET / LT KALOS / KALOS-XW / SC212-312 / ASL3000 / DIMOND-10 / SAPPHIRE
VERIGY(HP) HP4062 / HP4071-2 / HP83K / HP93K / HP94K
VERSA VERSA1000 / VERSA2000 / VERSA3300 / VERSA4400 / VERSA 5400
YOKOGAWA TS6700-A / TS6700-B / TS6700-C / ST6730 / AL6050
MOSAID MOSAID 3440 / MOSAID 3480 / MOSAID 3485 / MOSAID 4205
TI VLCT 8” / VLCT 12” / RASP
KEITHLEY S600 / S900
Etc. MAVERICK / ITS9000 / HITACHI 5060 / API-PRVX1,2,3 SYSTEM
| TYPE : CANTILEVER |
PCB 위에 EPOXY로 고정시킨 Needle Pin을 이용하여 특정 DEVICE의 Chip Pad 위치와 동일하게 Contact 하게 하는 PROBE CARD 제조기술.
Needle SPIDER
Needle SPIDER
PCB Micro-Strip Line
Component
Component & WIRE
STIFFNER
| TYPE : VERTICAL |
Vertical Needle BLOCK
Vertical Needle BLOCK
Vertical P/C (WAFER Side)
Vertical P/C (TESTER Side)
Component & WIRE
Component & WIRE
ADDRESS 경기도 군포시 고산로 148번길 17, A동2602호(당정동,군포IT밸리) / TEL 031-427-3601 / FAX 031-427-3603
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